高加速寿命试验（Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验）是一种利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示电子和机械装配件设计缺陷和不 足的过程。HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。
HALT没有预先设定极限，极限由产品决定，逐步增加应力，直至失效，试验中需要对产品进行监测。HASS（Highly Accelerated Stress Screening） 试验产品通过HALT试验得出操作或破坏极限值后所做的高加速应力筛选,应力低于HALT试验。
